湿法化学腐蚀是最早用于微机械结构制造的加工方法。所谓湿法腐蚀,就是将晶片置于液态的化学腐蚀液中进行腐蚀,在腐蚀过程中,腐蚀液将把它所接触的材料通过化学反应逐步浸蚀溶掉。用于化学腐蚀的试剂很多,有酸性腐蚀剂,碱性腐蚀剂以及有机腐蚀剂等。
以后为华林科纳半导体设备技术的工程师浅谈在半导体湿法腐蚀清洗过程中遇到的清洗注意事项:
1、硫酸双氧水去胶 
        说明:去除光刻胶  
配比:H2SO4:H2O2=3:1
        温度:140℃  
        流程:1槽5分钟→溢流5分钟→2槽5分钟→冲水10次→甩干  
2、DHF去二氧化硅  
        说明:HF酸漂去二氧化硅 配比:HF:H2O=1:10 
        温度:室温  
        流程:HF酸漂洗(依漂去二氧化硅厚度定时)→溢流5分钟→冲水10次→甩干  
3、氮化硅  
        说明:推阱及场氧后LPSIN的剥离
        配比:98%磷酸 
        温度:160℃ 
        流程:HF酸漂洗30sec→溢流5分钟→磷酸槽60min→溢流5分钟→冲水10次→甩干   
4、BOE腐蚀二氧化硅 
        说明:非关键尺寸二氧化硅图形窗口的腐蚀
        配比:BOE 
        温度:室温  
        流程:BOE漂(依须腐蚀二氧化硅厚度定时)→溢流5分钟→冲水10次→甩干 
        注意:由于圆片上带有光刻胶,腐蚀前须热坚膜,条件是120℃30min,若腐蚀时间超过3min,腐蚀前热坚膜120℃30min+150℃15min,每腐蚀1min30sec加烘120℃30min。  
5、EKC清洗 
说明:金属腐蚀及通孔腐蚀干法去胶后的清洗,去除因干法腐蚀而残留在图形边缘的聚合物  
配比:EKC265/IPA 
        温度:EKC265 65℃      IPA    室温  
        流程:EKC槽30min→IPA3min→→冲水10次→甩干 
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