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发布时间: 2017 - 12 - 06
在LED外延及芯片制造领域,湿法设备占据约40%以上的工艺,随着工艺技术的不断发展,湿法设备已经成为LED外延及芯片制造领域的关键设备,如SPM酸清洗、有机清洗、显影、去胶、ITO蚀刻、BOE蚀刻、PSS高温侧腐、下蜡、匀胶、甩干、掩膜版清洗等。华林科纳(江苏)CSE深入研究LED生产工艺,现已形成可满足LED产业化项目需求的全自动湿法工艺标准成套设备。 LED 芯片的制造工艺流程为:外延片→清洗→镀透明电极层→透明电极图形光刻→腐蚀→去胶→平台图形光刻→干法刻蚀→去胶→退火→SiO2 沉积→窗口图形光刻→SiO2腐蚀→去胶→N极图形光刻→预清洗→镀膜→剥离→退火→P 极图形光刻→镀膜→剥离→研磨→切割→芯片→成品测试。 CSE-外延片清洗机设备 设备名称华林科纳(江苏)CSE-外延片清洗机设备可处理晶圆尺寸2”-12”可处理晶圆材料硅、砷化镓、磷化铟、氮化镓、碳化硅、铌酸锂、钽酸锂等应用领域集成电路、声表面波(SAW)器件、微波毫米波器件、MEMS器件、先进封装等专有技术系统洁净性技术均匀性技术晶圆片N2干燥技术模块化系统集成技术自动传输及精确控制技术溶液温度、流量和压力的精确控制技术主要技术特点系统结构紧凑、安全腔体独立密封,具有多种功能可实现晶圆干进干出采用工控机控制,功能强大,操作简便可根据用户要求提供个性化解决方案设备制造商华林科纳(江苏)半导体设备有限公司 www.hlkncse.com 400-8768-096 ;18915583058更多的外延片清洗设备相关资讯可以关注华林科纳CSE官网(www.hlkncse.com),现在热线咨询400-8798-096可立即获取免费的半导体行业相关清洗设备解决方案。
发布时间: 2017 - 12 - 06
旋转式喷镀台结合微组装工艺对镀制工艺的小批量、多规格和特殊应用要求等特点,在6" (150mm)晶圆电镀系统中采用了倾斜式旋转喷镀技术倾斜式旋转喷镀单元分由两个部分组成,一为阴极夹具、旋转单元、导线电刷、N2 保护单元组成的阴极回转体,二为三角形槽体、阳极和电力线挡板组成的阳极腔。倾斜旋转喷镀结构示意图如下:从镀制结构方式、镀制工艺应用分析可以看出,采用倾斜式旋转喷镀有以下几种优势。一是这种结构方式易实现槽体密封和附加N2 保护功能。二是在这种镀制工艺中,阴极的旋转运动使槽内电场不均问题得以解决,从而提高了镀制的均匀性。三是呈45°倾斜加阴极旋转的方式,可以较容易的祛除晶圆表面的气泡附着及“产生”气泡的消除。四是采用了多微孔进行镀液喷射,实现搅拌功能,消除局部PH值、温度、离子浓度等不均匀带来的影响。五是采用三角形镀槽设计最大限度的减少了镀液的消耗。六是该镀制结构方式可以满足多品种、小批量、低成本的生产需求。倾斜旋转喷镀技术、工艺优势斜式三角镀槽结构本系统采用倾斜式三角形镀槽结构,镀槽入口溢流口均与三角形斜边平行,可得到稳定且不易积累气泡的流场环境。通过进行相关模拟、仿真和验证,镀液入口采用扇形喷咀式结构,可保证镀液在平行于阴极表面方向上形成均匀而稳定的流场。从而通过改变流场的方法改善了镀层的均匀性。该结构的另一优点可使电镀液的用量减至最少程度。 华林科纳(江苏)CSE采用倾斜旋转喷镀方法进行晶圆电镀工艺处理,由于结构上的特点,该方法经实验验证具有:①结构简单;②工艺参数控制容易;③有利气泡的消除;④镀制均匀性得到提高;⑤镀制溶液用量少。该方法尤其适应于小批量、多规格的电镀工艺,同时可以取得较好的镀制均匀性。图6为我们所研制的150mm晶圆倾斜旋转喷镀系统,目前已批量生产并在工艺线上得到较好的应用,产品已通过技术定型鉴定和用户验收。实现的主要工艺指标:最...
发布时间: 2016 - 06 - 22
双腔甩干机1. 应用范围:l 本機台適用於半導體2”4”6”8”晶圓(含)以下之旋乾製程.l 设备為垂直式雙槽體機台,可同Run 50片.l 可對旋乾步驟進行可程式化控制 (Recipe Program).l 具使用在此設備已超過20年以上的應用馬達控制系統設計, 高穩定度Rotor 設計, 震動值均控制於300 um 以下.l 高潔淨設計,微塵控制於每次運轉增加量, 0.3um , 30顆以下.   2. 操作流程3. 图示 4. 規格l 機台內皆使用鐵氟龍製DI , N2 控制閥件l 直流式馬達: DC無刷馬達750Wl 真空負壓軸封設計,隔離槽外污染l 不銹鋼N2過濾器 0.003~0.005μml 氣體加熱器及加熱墊控制乾燥速率l 壓力感測保護(加熱器空燒保護)l 槽外貼Silicon材質加熱墊 x1 片, 220VAC , 300W(溫度開關90°C OFF 70°C ON)l  Viton材質充氣式氣囊及槽後密封環,保持室外絕緣l 不銹鋼槽體SS316經拋光及電解研磨l 單顆螺絲固定轉子,並按客戶需求指定使用訂做l 轉子經拋光及電解研磨,並做動態平衡校正l 可選擇指示燈訊及蜂鳴器音樂故障碼功能: 門鎖警告,氣體不足,傳動異常警告 5. 電控系統l  控制器操作介面: 7”記憶人機+ PLC可程式自動化控制器(人機 Touch Screen,整合介面) 。l 軟體功能Ø 編輯/儲存 : 製程/維修/警示/編輯/配方/,皆可從操作螢幕上修改。Ø 儲存能力記憶模組...
发布时间: 2016 - 03 - 07
枚叶式清洗机-华林科纳CSE华林科纳(江苏)半导体CSE-单片枚叶式洗净装置的特长:单片式清洗装置的优点(与浸渍.槽式比较)1.晶片表面的微粒数非常少(到25nm可对应)例:附着粒子数…10个/W以下(0.08UM以上粒子)(参考)槽式200个/W2.药液纯水的消费量少药液…(例)1%DHF的情况  20L/日纯水...每处理一枚晶片0.5-1L/分3.小装置size(根据每个客户可以定制) 液体溅射(尘埃强制除去)  (推荐)清洗方法单片式装置的Particle再附着问题   更多的半导体单片枚叶式湿法腐蚀清洗设备相关信息可以关注华林科纳CSE官网(www.hlkncas.com),现在热线咨询400-8768-096;18913575037可立即获取免费的半导体清洗解决方案。
发布时间: 2016 - 03 - 07
自动供酸系统(CDS)-华林科纳(江苏)CSEChemical Dispense System System 华林科纳(江苏)半导体CSE-CDS自动供酸系统 适用对象:HF、HN03、KOH、NH4OH、NaOH、H2SO4、HCL、 H2O2、IPA等主要用途:本设备主要用于湿法刻蚀清洗等制程工程工序需要的刻蚀液集中进行配送,经管道至设备;具有自动化程度高,配比精确,操作简便等特点;具有良好的耐腐蚀性能。控制模式:手动控制模式、自动控制模式设备名称华林科纳(江苏)CSE-CDS自动供酸系统设备型号CSE-CDS-N1507设计基准1.供液系统(Chemical Dispense System System)简称:CDS2. CDS 将设置于化学房内:酸碱溶液CDS 系统要求放置防腐性的化学房;3. 设备材质说明(酸碱类):酸碱溶液CDS外构采以WPP 10T 板材,内部管路及组件采PFA 451 HP 材质;4. 系统为采以化学原液 双桶/单桶20L、200L、1t等方式以Pump 方式运送到制程使用点;5. 过滤器:配有10” PFA材质过滤器外壳;6. 供液泵:每种化学液体配有两台或者一台 PTFE材质的进口隔膜泵;7. Empty Sensor & Level Sensor:酸碱类采用一般型静电容近接开关;8. 所有化学品柜、歧管箱及阀箱均提供泄漏侦测器与警报功能。CDS系统设备规格 1. 系统主要功能概述设备主要功能:每种化学液体配两个桶(自动切换)、配两台泵(一用一备)、带过滤器;系统控制单元:配带OMRON 8”彩色触摸屏,OMRON品牌PLC系统;2. 操作模式: CDS 系统皆有PLC 作Unit 内部流程控制,操作介面以流程方式执行,兼具自动化与亲和力。在...
发布时间: 2018 - 01 - 23
单片清洗机-华林科纳CSESingle wafer cleaner system华林科纳(江苏)CSE-自动单片式腐蚀清洗机应用于清洗(包括光刻板清洗)刻蚀 去胶 金属剥离等;可处理晶圆尺寸2'-12';可处理晶圆材料:硅 砷化镓 磷化铟 氮化镓 碳化硅 铌酸锂 钽酸锂等;主要应用领域:集成电路   声表面波器件  微波毫米波器件  MEMS  先进封装等  设 备 名 称CSE-单片清洗机类  型单片式适 用 领 域半导体、太阳能、液晶、MEMS等清 洗 方 式2英寸——12英寸设备稳定性1、≥0.2um颗粒少于10颗2、金属附着量:3E10 atoms/ cm²3、纯水消耗量:1L/min/片4、蚀刻均一性良好(SiO₂氧化膜被稀释HF处理):≤2%5、干燥时间:≤20S6、药液回收率:>95%单片式优点1、单片处理时间短(相较于槽式清洗机)2、节约成本(药液循环利用,消耗量远低于槽式)3、良品率高4、有效避免边缘再附着5、立体层叠式结构,占地面积小 更多的单片(枚叶)式清洗相关设备可以关注华林科纳(江苏)半导体官网,关注http://www.hlkncse.com ,400-8768-096,18913575037
发布时间: 2017 - 12 - 06
氢氟酸HF自动供液系统-华林科纳(江苏)CSEChemical Dispense System System 华林科纳(江苏)半导体CSE-氢氟酸供液系统 适用对象:HF、HN03、KOH、NH4OH、NaOH、H2SO4、HCL、 H2O2、IPA等主要用途:本设备主要用于湿法刻蚀清洗等制程工程工序需要的刻蚀液集中进行配送,经管道至设备;具有自动化程度高,配比精确,操作简便等特点;具有良好的耐腐蚀性能。控制模式:手动控制模式、自动控制模式 设备名称华林科纳(江苏)CSE-氢氟酸(HF)供液系统设备型号CSE-CDS-N2601设计基准1.供液系统(Chemical Dispense System System)简称:CDS2. CDS 将设置于化学房内:酸碱溶液CDS 系统要求放置防腐性的化学房;3. 设备材质说明(酸碱类):酸碱溶液CDS外构采以WPP 10T 板材,内部管路及组件采PFA 451 HP 材质;4. 系统为采以化学原液 双桶/单桶20L、200L、1t等方式以Pump 方式运送到制程使用点;5. 过滤器:配有10” PFA材质过滤器外壳;6. 供液泵:每种化学液体配有两台或者一台 PTFE材质的进口隔膜泵;7. Empty Sensor & Level Sensor:酸碱类采用一般型静电容近接开关;8. 所有化学品柜、歧管箱及阀箱均提供泄漏侦测器与警报功能。CDS系统设备规格 1. 系统主要功能概述设备主要功能:每种化学液体配两个桶(自动切换)、配两台泵(一用一备)、带过滤器;系统控制单元:配带OMRON 8”彩色触摸屏,OMRON品牌PLC系统;2. 操作模式: CDS 系统皆有PLC 作Unit 内部流程控制,操作介面以流程方式执行,兼具自动化...
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等离子去胶新工艺

时间: 2021-02-26
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目前,在国内外半一导体器件制造工艺中,用等离子去胶工艺代替常规化学溶剂去胶及高温氧气去胶已获得显著效果,越来越引起半导体器件制造者的重视。由于该工艺操作简便、成本低、可节约大量的化学试剂、对器件参数无影响、去胶效果好。在集成电路多层布线工艺中用高温氧气去胶常使一次布线铝层由于四百多度高温氧化发黄,而影响与二次布线铝层的欧姆接触,若用发烟硝酸去胶后擦片又常使铝层擦伤而降低了二次布线的合格率。

·采用等离子去胶则可大大减少铝层表面的擦伤,不氧化,无底膜,保证二次布线的欧姆接触,提高了多层布线的合格率。为大面积集成电路的发展提供了很好的前景。

等离子体及产生等离子体的方法

作为物质的第四态,高度电离的气体叫做等离子体。等离子体具有导电性。从产生方法不同又可分为高温等离子体及低温等离子体两种。高温等离子体如氢弹的爆炸,火花放电及太阳表面的高温都能使气体电离成为等离子体,这种方法产生的等离子体,温度能达到几千度到几十万度,称为高温等离子体。

去胶工艺使用的是低温等离子体,其作用原理是低压气体在电场力的作用下发生电离。在电离过程中,低压气体中残存的少量自由电子在电场力作用下,向正电极运动,由于低压气体密度小,自由电子的平均自由程较大,在与气体分子的两次碰撞之间能够获得很高的能量,这种高能量的自由电子撞击气体分子,使它离解成电离子和自由电子,这些气体部分分子电离后又有更多的自由电子撞击气体分子,因此离子数目急剧增加,很快使气体成为等离子体,这种方法产生的等离子体的温度可达儿千度,也可以是常温,叫做低温等离子体。等离子去胶,产生温度一般不超过二百度。

产生低温等离子体方法有高压直流溅射,高频溅射和高频放电。我们等离子体去胶用的是高频电容放电这一形式,这种方法当(氧气流量固定为300毫升/分,真空泵抽气速率为100/分)板流为0.2安左右即能点火起爆,板流加到0.4~0.8安之间即能迅速去胶,起爆强度大,均匀性好。电容法放电是通过高频电场在电容正负两极之间放电,高频电场透过石英管壁传递给低压氧气,促使其电离而产生等离子体。

等离子体去 胶原理

低压氧气在高频电场作用下,被电离成0202-O2,其中氧离子具有很高的能量,在和光刻胶撞击的过程中,足使抗蚀剂C-H键发生断裂,和初生态的氧原子发生氧化反应成C0C02H2002等气体被真空泵抽掉而达到去胶目的。反应方程式可用下式表示:

等离子去胶新工艺

去胶的速率为1500~2000/分,去胶时间和胶厚度成正比,常规工艺光刻胶厚约1~1.5微米,去胶时间约5~10分钟。

三、设备

等离子体去胶设备示意图如图1所示。

等离子去胶新工艺

1.高频功率发生器:我厂开始试验时因缺乏合适的高频功率发生器,就用上海纸品二厂出产的3.5旺高频感应炉稍加改装而成。原有频率因只有300~500千周而不适用,我们拆去了部分槽路电容,使频率提高到1.9兆赫,基本上能满足去胶要求。

2.石英管中60毫米一根。

3.机械泵100/分(60/分也可以用)。

4.工作电容:用铜皮或镶皮制造,环宽为1.3厘米,间距为1.3厘米,分二组,每组10环和高频炉谐振回路用16“铜路连接。

5.氧气瓶一个,医用氧气表一个。

6.环形无底石英支架2个,上面每隔1厘米开一槽。

四、操作步骤

1.将待去胶的月子装在无底环形石英支架上,每隔1厘米装一片(或正反两片)。

装好后插入石英管中部的电极工作区内。

2.开高频炉总电源,此时风机工作,电源指示灯亮。

3.启动灯丝按钮,将灯丝调压器调至12伏左右,此时灯丝指示灯亮。

4.启动机械泵对反应管抽真空达10-*毫米录柱,即通入氧气300~400毫升/分。

5.启动高频炉高压按钮,调调压暴使板流为0.8安左右,板压直流为2500伏,此时概流为100~130毫安左右,观察反应管低压氧气为紫兰色,否则就应调节氧气流量至这种颜色为止,维续放电5~6分钟

6.关高频。机械系,同时对石英管及泵放气,之后取出础片,去胶工艺即完毕。

五、工艺试验讨论。

1.高颜炉的顺率越高,氧气越容的电画,美胶的效率也越高。我们因为是故装的设备,为了不使改动太多,因此只所去部分精路,,电容未作大的变动,频率在政动之后为1.9兆赫,当板施为0.6安时高额输出动率为1200瓦,去脱速率为1500~2000/分,如顺率能提高到10亮赫的话,则去应动率还可降低,我们准备自己装配10兆赫的去胶设备:估计使用功率在1000瓦以下。

nt 2.真空度对去应速率的影响:我们说备在调测过程中,发现系统真空度对去腕速率影响较大,系统的真空度在泵的抽速固定不变时,取决于氧气流量,真空度一氧流量升//760毫米承柱,过大过小的氧流量都不能较快去胶。氧流量过小时,真空度高,辉光强烈。我们发现在这种条件下,片子中心的胶去得很慢,边缘去得很快。造成去胶不均匀。氧流量过大时,则又辉光很洞,整个胶面都去的很慢。我们调节流量在400毫升/分左右,系抽速为100毫升/分左右时,辉光呈紫兰色,去胶较快。约5分钟即能去净1微米的胶,为什么氧流量过小(即真空度高)时,去胶不均匀,氧流量过大时,又去胶很慢。我们认为是这样的原因:当真空度高时,氧离子浓度在石英管壁处高。在石英管中心,由于离子的复合降低,因而造成电子边缘去胶快,中心慢的现象。反过来真空度过低时,又由于电离度过小,离子浓度不够,而造成去胶太慢。当条件处在二者之间时,保证了足够的电离强度和氧离子浓度时,则能均匀地快速去胶。在这种条件下,真空度保持在10-毫米承柱时,分子平均自由程较大,氧离子可获得较大的能量,和光致抗蚀剂起反应,氧离子浓度也足够,同时大量吸附在胶面的氧分子,氧原子在离子的激活之下,也参加氧化反应。因此,我们会喷到一股臭氧的味道。综上所述,我们应折衷选择,合适的真空度以保证去胶均匀和快速。

(3.我们目前使用的电容环的工作区长为45厘米(甚至可以更长到1米左右),按每厘米装2片(背靠背装于一糖内》,因此可一次去胶一百大园片,适合于大量生产要求,符合多、快、好、省的精神。

4.真空泵油:在使用中我们发现真空泵油易氧化变质,应选用抗氧化油类,等离子丢胶这项新工艺具有强大的生命力,它彻底改变了长期以来用酸类及有机溶剂去胶的落后面貌,这项工艺不但在去胶方面具有特长,而且等离子态这一新技术应用于氧化硅、氮化硅的蚀刻已引起了人们的普遍重视,并为半导体器件的生产发展开辟了新的领域。因此我们主张大力推广等离子技术,从应用的过程中,掌握等离子技术的规律,为半导体工艺革命创造有利条件。

六、各项参数比较

我们搞等离子去胶,时间很短,没有经验,还有很多具体工作,如可靠性,重复性方面工作做得不多,今后要进一步实践,希望兄弟单位多报导这方面的实践经验,共同进步。

等离子去胶新工艺



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